描述：工業檢測顯微鏡TYV-54X
采用了優等的無限遠校正光學系統，圖像清晰，襯度好，是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業開發的

廠商性質
其他
更新時間
2024-09-09
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品牌	其他品牌	產地類別	國產
應用領域	石油

工業檢測顯微鏡TYV-54X

工業檢測顯微鏡54X配有大移動范圍的載物臺、落射照明器、平場無限遠長工作距離明暗場物鏡、大視野目鏡，其采用了優等的無限遠校正光學系統，圖像清晰，襯度好，是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業開發的，作為高級工業顯微鏡使用。可進行明暗場、落射偏光和微分干涉的觀察，廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對硅片、電路基板、裂縫探究、精密模具的監測分析。該顯微鏡配有三目鏡管可選配攝像裝置和攝影裝置，并連接電腦再配置測量軟件或金相圖像分析軟件，便可成為一臺微機型工業檢測顯微鏡。總放大倍數：50X-800X

工業檢測顯微鏡TYV-54X

技術參數

1	平場目鏡	大視野WF10XΦ25mm
2	平場分劃目鏡	WF10X/Φ20mm （0.1格值）
3	無窮遠平場長工作距離平場物鏡	(放大倍數/數值孔徑/工作距離) PL5X/0.10/29.4、 PLL10X/0.25/16、PLL20X/0.40/10.6、PLL40X/0.60/5.4、PLL80X/0.75/4.0
4	總放大倍數	50X-800X
5	三目觀察頭：	30°傾斜
6	物鏡轉換器：	五孔帶DIC、明暗場插孔
7	粗微調調焦范圍：	30mm,粗微動同軸調焦, 微動格值0.002mm
8	載物臺：	雙層移動平臺尺寸350X310mm 移動范圍: 250X250mm 玻璃平臺：尺寸268×198mm 移動范圍：250×250mm
9	載物臺移動：	具有快速手推功能，可實現快速到位
10	偏光裝置	檢偏鏡可360°轉動，起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路
11	DIC暗場裝置	DIC、暗場插件均可移出光路
12	落射照明：	亮度可調鹵鎢燈泡 12V100W 落射照明器帶視場光欄、孔徑光欄
13	儀器重量	凈重35kg 毛重40kg
14	儀器尺寸	儀器尺寸40X50X47（cm）包裝尺寸59X49X53 (cm)

產品成套性

1、產品的成套件：

序號	名稱	主要技術參數	單位	數量
1	顯微鏡主體		臺	1
2	落射照明器		套	1
3	簡易偏振裝置		套	1
4	目鏡	10X	對	1
5	分劃目鏡	10X 0.1mm十字分劃板	只	1
6	物鏡	5X、 10X 、20X、40X、80X	只	各1
7	測微尺	0.01mm	塊	1
8	備用燈泡	12V/100W	只	1
9	濾色片	藍、綠、磨砂玻璃	片	各1
10	隨機文件	裝箱單、合格證、保修卡、說明書	套	1

2、選購件：

目鏡 15X/Φ17、20X/Φ12.5 50X物鏡攝影攝像裝置、圖像分析軟件

產品名稱：數字式四探針電阻率測試儀
產品型號：SX1944

數字式四探針電阻率測試儀型號：SX1944

產品說明
　　四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。廣泛用于半導體廠家、太陽能行業，還能滿足科研單位的精密研究。　
產品特點
　　四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試儀器。
　　儀器以大規模集成電路為核心部件，采用旋扭式開關控制，及各種工作狀態LED指示。應用微計算機技術，使得測量讀數更加直觀、快速。整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩定性好、易操作。
　型號SX1944
測量范圍電阻率：10-4～105Ω-cm 方塊電阻：10-3～106Ω/□ 電阻：10-4～105Ω
可測半導體材料尺寸直徑：Φ15～100mm
測量方位軸向、徑向均可
數字電壓表⑴量程： 200mV
⑵誤差：± 0.1% 讀數± 2 字
⑶大分辨力：10μV
顯示 : 4位半數字顯示。小數點自動顯示

數控恒流源⑴電流輸出：直流電流 0 ～ 100mA 連續可調，由交流電源供電。
⑵量程： 1 μ A ， 10 μ A ， 100μA ， 1mA ， 10mA ， 100mA
⑶誤差：± 0.5% 讀數± 2 字

四探針測試探頭⑴探針間距： 1mm
⑵探針機械游移率： ± 1.0%
⑶探針：碳化鎢，Φ 0.5mm
⑷壓力： 0 ～ 2kg 可調 , 大壓力約 2kg

電源輸入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功耗： <20W
外形尺寸主機 260mm （長）× 210 mm （寬）× 125mm （高）
備注USB 接口，配軟件

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